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        產品詳情
        • 產品名稱:KDY-1A便攜式電阻率/方阻測試儀

        • 產品型號:
        • 產品廠商:其它品牌
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        簡單介紹:
        產品簡介 1、符合半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法。 2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體,也可測量薄硅片電阻率及方阻。 3、電阻率測量范圍復蓋*常用的區段:0.01—199.9Ω·cm。(可添加電阻率小于0.5Ω·cm的報警功能) 方塊電阻測量范圍復蓋*常用的區段:0.1—1999Ω/□。(可添加方塊電阻小于5Ω/□的報警功能) 4、配置高精度恒流源,測量電流穩定,分兩檔:1mA、10mA,每檔均可在大范圍內調節(1mA:0.1—1mA;10mA:1mA—10mA)。 5、測量精度高:電器測量精度優于0.3%; 整機測量誤差:測量1-100Ω·cm的標準硅片誤差≤±3%。 測量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標準硅片誤差≤±5%。 6、重量輕,約2.5kg;體積?。?40×210×100(mm)。 7、可配用多種探針間距
        詳情介紹:
        產品簡介
         
        1、符合半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法。
        2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體,也可測量薄硅片電阻率及方阻。
        3、電阻率測量范圍復蓋*常用的區段:0.01—199.9Ω·cm。(可添加電阻率小于0.5Ω·cm的報警功能)
             方塊電阻測量范圍復蓋*常用的區段:0.1—1999Ω/□。(可添加方塊電阻小于5Ω/□的報警功能)
        4、配置高精度恒流源,測量電流穩定,分兩檔:1mA、10mA,每檔均可在大范圍內調節(1mA:0.1—1mA;10mA:1mA—10mA)。
        5、測量精度高:電器測量精度優于0.3%;
             整機測量誤差:測量1-100Ω·cm的標準硅片誤差≤±3%。
             測量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標準硅片誤差≤±5%。
        6、重量輕,約2.5kg;體積?。?40×210×100(mm)。
        7、可配用多種探針間距的四探針頭:1.00mm、1.59mm。
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