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        產品詳情
        • 產品名稱:四探針測試儀SX1934測試架

        • 產品型號:
        • 產品廠商:其它品牌
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        • 折扣價格:0
        • 產品文檔:
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        簡單介紹:
        四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試專用儀器。   儀器以大規模集成電路為核心部件,采用旋扭式開關控制,及各種工作狀態LED指示。應用微計算機技術,使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩定性好、易操作。
        詳情介紹:
        詳細參數
        型號
        SX1934(SZ82)
        測量范圍
        電阻率/Range:10-4—105Ω/□(可擴展/extended range) 方塊電阻(薄層電阻) /Sheet resistance:10-3—106Ω/□ 電阻/resistance:10-6—105Ω
        可測晶片直徑(*大)
        φ100mm(標配),方形230×220mm(*大)
        *大電阻測量誤差(按JJG508-87)
        0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%讀數±2個字
        外形尺寸
        400mm×440mm×120mm
        儀器重量
        電氣主機:約4kg   測試臺:約5kg
        測試環境
        溫度:23±2℃ 相對濕度:≤65%; 無高頻干擾 無強光照射
        電源
        220V±10%(50Hz) 功耗≤35W
         
        探頭
        Sx系列四探針探頭是采用綜合性能優異的高分子材料、耐磨和硬度高的探針研制的測量數據穩定、可靠、準確度高、耐用性能好四探針探頭。所有技術指標符合國家標準,同時符合ASTM標準有關規定。  
        間距:1±0.01mm; 針間絕緣電阻≥1000MΩ; 機械游移率:≤1.0%;
        探針壓力:TZT-9A/9B: 12-16牛頓(總力) TZT-9C/9D 5-8 牛頓(總力)
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